研究背景
2D材料顯示出與塊材不同的奇妙物理和化學性質,使它們成為探索基礎科學和技術應用的完美候選者。例如,2D過渡金屬硫族化合物(TMDs)具有豐富的結構,高載流子遷移率,可調的帶隙和強光-物質相互作用,使其成為下一代電子和光電子器件發展的主要競爭者。此外,2D TMDs優越的導電性、豐富的催化活性位點和簡單的結構模型為探索催化機理提供了便利,為合理設計2D催化劑提供了新的機會。PtSe2是一類10族TMDs,近年來因其優異的性能和廣闊的應用前景而備受關注。與其他2D TMDs不同,由于強層間耦合效應,PtSe2表現出突出的層依賴電子性質。理論計算和實驗證實,隨著厚度增加,PtSe2經歷了從半導體到金屬的轉變。單層PtSe2和雙層PtSe2是帶隙分別為1.8和0.3 eV的半導體,從三層開始變為半金屬,對應的光譜范圍對太陽能收集和電信具有重要意義。半導體PtSe2預計在室溫下具有2000 cm2?V-1?s-1的超高載流子遷移率,約為MoS2的6倍,這使得PtSe2成為開發2D電子和光電子器件的有希望候選者。另一方面,具有高導電性的金屬性PtSe2在用于分解水的催化劑中具有很好的應用潛力,優于研究最廣泛的2D TMDs催化劑。因此,大規模可控合成PtSe2是探索其新性質和實際應用的必要條件。?? ?
? ? ? ? ??
成果介紹
有鑒于此,近日,陜西師范大學徐華教授團隊通過Au(001)襯底上臺階誘導的析出生長策略,展示了大面積超薄PtSe2微米帶的穩定合成。由于該方法的高度可控性,通過協同調節生長溫度和時間,實現了PtSe2微米帶厚度從單層到塊材的連續調制,樣品覆蓋率從≈5%到≈100%。理論計算表明,在Au臺階中PtSe2成核形成能的顯著降低,以及Pt前驅體的高效析出供應,是PtSe2穩定合成的原因。由于超薄PtSe2微米帶具有豐富活性位點的邊緣和金屬導電特性,可以作為一種優良的電催化劑,具有創記錄的高析氫反應效率(Tafel斜率:37 mV dec-1)。這項工作為大規模2D材料的高效合成提供了新的見解,用于探索其獨特的物理特性和迷人的應用。文章以“Robust Synthesis of Large-Area PtSe2?Microbelts by Step-Induced Separation Growth on Au(001) Substrate for The Hydrogen Evolution Reaction”為題發表在著名期刊Advanced Functional Materials上。
? ? ? ? ??
圖文導讀?? ?
圖1. Au襯底上超薄PtSe2微米帶的合成。(a)用于合成超薄PtSe2的臺階誘導析出生長策略的示意圖。(b&c)Au箔上生長的PtSe2微米帶的SEM圖像。(d&e)轉移到SiO2/Si襯底上的PtSe2微米帶的OM和AFM圖像。?
?
用于合成超薄PtSe2的臺階誘導析出生長策略如圖1a所示。簡單地說,首先通過在≈1050 ℃下退火30分鐘制備出具有相當臺階的高能鄰近Au(001)晶面。然后,在含有PtCl2前驅體的CVD腔室中900 ℃退火5分鐘,將Pt原子溶解到Au箔中。根據Au-Pt相圖,在高溫(400-1200 ℃)下,Pt和Au可以形成大濃度范圍的固溶體,這意味著在退火溫度(900 ℃)下,Pt可以大量溶解于Au中。在最后一步,在600 ~ 900 ℃的溫度下引入Se前驅體,PtSe2通過析出生長模型沿Au(001)晶面成核并生長。PtSe2微米帶的晶粒尺寸(長度為100~300 μm,寬度為0.3~5 μm)比在傳統絕緣襯底上生長的PtSe2微米帶(通常為0.2~5 μm)增加了約2個數量級,表明了PtSe2在Au上的高效生長。需要注意的是,PtSe2微米帶沿著Au箔上的臺階均勻生長,完全復制了Au臺階的形態(圖1c)。此外,彎曲的微米帶形態是由于Au箔表面波浪狀的起伏,使直臺階變為彎臺階。微米帶形態特征和大晶粒尺寸揭示了PtSe2在Au上生長的一種新生長機制,其中Au上的臺階對PtSe2的生長起著關鍵作用。轉移到SiO2/Si襯底上的PtSe2樣品的OM圖像(圖1d)進一步證實了微米帶形貌,AFM圖像顯示樣品的均勻厚度為≈1.6 nm(圖1e),對應于雙層PtSe2。???
?
圖2. CVD生長的PtSe2微米帶的組成及原子結構表征。(a-d)一條PtSe2微米帶的低倍STEM圖像,以及相應的EDS元素成像。(e)PtSe2樣品中Pt和Se元素的XPS光譜。(f)PtSe2微米帶的原子分辨ADF-STEM圖像。(g)強度線輪廓。(h)低倍STEM圖像和SAED圖案。(i)PtSe2微米帶邊緣獲取的高分辨ADF-STEM圖像。(j)PtSe2微米帶的原子結構示意圖。??
?
PtSe2微米帶的低倍放大STEM圖像和相應的EDS元素成像(圖2a-d)顯示了Pt和Se元素在整個微米帶中的均勻空間分布。如圖2e所示,位于73.6和76.9 eV的兩個峰分別屬于Pt 4f7/2和4f5/2,位于54.9和55.7 eV的兩個峰分別屬于Se 3d5/2和3d3/2。此外,通過XPS定量分析計算得到的Pt:Se原子比為1:1.95,接近PtSe2晶體的化學計量比。圖2f顯示了CVD生長的PtSe2微米帶的高分辨ADF-STEM圖像,其中明亮和暗淡的位置分別對應于Pt(Z=78)和Se(Z=34)原子。可以看到一個近乎完美的周期原子排列,其晶格間距為0.253 nm,與PtSe2晶體的(002)平面相對應。可以清楚地看出,6個Se原子圍繞著一個中心Pt原子,表明其為八面體1T相結構,與模擬的1T相PtSe2晶體的STEM結構非常吻合(圖2f)。在強度線輪廓圖(圖2g)中進一步驗證,Pt和Se原子在八面體相中的Z對比清晰可見。此外,均勻的Z對比圖像和局部缺陷的缺失表明CVD生長的PtSe2微米帶具有較高的結晶度。圖2h顯示了PtSe2微米帶的低倍TEM圖像,在五個不同區域收集的幾乎相同SAED圖案表明其單晶性質。值得注意的是,PtSe2微米帶邊緣暴露了大量不飽和Pt原子,如圖2i所示。這些富含不飽和Pt原子的邊緣(圖2j)對于析氫反應是非常需要的。
? ? ? ? ???? ?
圖3. Au襯底上PtSe2微米帶的生長機理。(a)退火處理后Au箔的暗場OM圖像。(b-e)在Au(001)晶面和Au(101)晶面上生長的PtSe2微米帶的EBSD和SEM圖像。(f-h)在不同Au晶面上生長的PtSe2的原子結構示意圖。
?
本文從Au晶面(和臺階)和前驅體的供應方式對PtSe2成核和生長過程兩方面的影響系統地討論了生長方法的機理。首先,研究了退火后的Au箔的晶體結構,并比較了PtSe2在不同Au晶面上的生長行為。電子背散射衍射(EBSD)表征表明,Au(001)晶面占≈90%,Au(101)晶面和其他晶面占≈10%。利用暗場OM成像和AFM,本文證實了Au(001)晶面存在豐富的周期性臺階(高度范圍≈50-80 nm)(圖3a),而Au(101)晶面非常光滑。這是因為Au(001)晶面在所有面心立方(fcc)金屬面中是一個高能面,而臺階的形成有利于穩定這種高能面。結果表明,PtSe2微米帶只在Au(001)晶面生長(圖3b和c),而Au(101)面沒有樣品生長(圖3d和e)。上述實驗結果表明Au(001)晶面的臺階對PtSe2生長的重要性。此外,本文進一步通過DFT計算揭示了PtSe2微米帶在Au(001)晶面上臺階誘導生長的機制。Ef值為負值表明PtSe2能在Au表面生長并形成穩定的結構,Ef絕對值越大,PtSe2越容易形核生長。在Au(101),Au(001)和Au(111)晶面生長單層PtSe2的Ef分別為-0.30,-0.37和-0.28 eV/PtSe2(圖3f和g)。這些Ef值相差很小,接近于零,說明PtSe2在上述Au晶面形核的難度較大。為了揭示臺階對PtSe2生長的影響,本文沿Au(001)晶面的[101]軸計算了臺階邊緣鈍化的zigzag PtSe2微米帶的Ef。顯然,沿Au(001)晶面臺階邊緣生長的PtSe2單層的Ef低至-1.44 eV/PtSe2(圖3h),遠低于在Au(001)晶面(-0.37 eV/PtSe2),表明PtSe2優先沿Au(001)晶面臺階邊緣成核。這是因為PtSe2微米帶邊緣Pt原子的高能懸掛鍵被臺階邊緣的Au原子鈍化了。因此,結合實驗和理論結果,本文證實了Au(001)晶面的臺階誘導PtSe2微米帶快速成核。?? ?
圖4. PtSe2微米帶的厚度和覆蓋范圍可調合成。(a-d)在800 ℃下分別生長1、5、10和15 min的Au表面上PtSe2微米帶的OM圖像。(e&f)生長的PtSe2微米帶厚度和覆蓋度隨時間的變化。(g)在SiO2/Si襯底上轉移的單層(1L)、雙層(2L)、三層(3L)和少層PtSe2微米帶的拉曼光譜。(h)A1g/Eg的強度比和A1g-Eg的峰位差隨PtSe2微米帶厚度的變化。
?
基于PtSe2微米帶在Au(001)襯底上的生長機理,本文系統地探索了通過調節生長時間和溫度來控制其生長的方法。圖4a-d顯示了Au(001)襯底上PtSe2微米帶在800 ℃下分別生長1,5,10和15 min的OM圖像。顯然,隨著生長時間延長,PtSe2微米帶的厚度和覆蓋范圍都在增加。生長1、5、10、15 min的PtSe2微米帶厚度分別為0.78、3.66、5.36、8.15 nm,樣品覆蓋率分別為≈41%-57%、≈56%-72%、≈77%-83%、≈92%-98%。值得注意的是,PtSe2微米帶在Au(001)襯底上的生長速度比在傳統絕緣襯底上要快得多(僅在1 min內實現高覆蓋),表明其具有更高的生長效率。此外,在Au(001)襯底上合成的PtSe2微米帶的覆蓋率和厚度也與生長溫度密切相關,兩者都隨著生長溫度升高而增加。因此,通過協同調節生長時間(1-15 min)和溫度(600-900 ℃),可以連續調節PtSe2微米帶的厚度從0.82到20 nm,覆蓋率從≈5%到≈100%。
圖4g給出了不同厚度PtSe2微米帶的拉曼光譜,其中180.3和206.5 cm-1處的兩個主拉曼峰對應于PtSe2晶體的面內Eg和面外Ag模式。此外,233.6 cm-1處的弱層內縱向光學模式是由相反相Pt和Se原子振動產生的面內Eu和面外A2u模式的組合。隨著PtSe2厚度從單層增加到多層,由于堆疊引起的結構變化和層間長程庫侖相互作用,Eg模式的拉曼峰從180.3 cm-1移動到175.6 cm-1,而Ag模式的拉曼峰固定在206.5 cm-1。此外,隨著層數減少,層間相互作用受到抑制,A1g/Eg的峰強度比和A1g-Eg的峰位差隨著層數減少而減小(圖4h)。拉曼特征峰的厚度依賴演變可以用來識別CVD生長的PtSe2的層數。
圖5. CVD生長的PtSe2微米帶的電催化應用。(a)PtSe2的HER過程示意圖。(b)PtSe2晶體邊緣和基底面的氫吸附結構模型示意圖。(c)PtSe2和MoS2晶體對不同H吸附狀態的?GH*圖。(d)基于不同PtSe2覆蓋度的Au箔,空白Au箔和商用Pt箔的極化曲線。(e)對應的Tafel圖。(f)CVD生長的PtSe2催化劑的耐久性測試(≈50%覆蓋率)。
?
CVD生長的PtSe2微米帶的厚度和覆蓋范圍可調,邊緣豐富,促使探索其電催化應用,如圖5a所示。氫吸附自由能(?GH*)通常被視為催化性能的指標,當?GH*值接近于零時,由于活性位點氫原子的吸附和解吸達到最佳平衡,表明HER活性較好。因此,首先對PtSe2進行了DFT計算,以評估其催化性能并確定催化活性位點。如圖5b所示,PtSe2在Pt邊緣和Pt-Se橋(基底面)吸附H的?GH*值分別為0.04和0.94 eV,表明其在邊緣處的催化活性遠高于基底面。此外,通過比較PtSe2與2H相MoS2(Mo邊緣為0.25 eV,基面上為0.96 eV)在疇邊緣和基面上的?GH*值,PtSe2疇邊緣較低的?GH*值(0.04)表明了較好的催化活性(圖5c)。以上結果表明,PtSe2微米帶豐富的活性邊緣以及優異的金屬導電性將大大提高其HER性能。圖5d給出了這些PtSe2/Au電催化劑的極化曲線,并測量了空白Au箔和商用Pt箔的極化曲線作為參考。很明顯,當陰極電流密度(j)為10 mA cm-2時,覆蓋率從≈30%、≈50%、≈60%增加到≈90%時,過電位從337、330、279到135 mV顯著降低,這歸因于活性邊緣位點的增加。此外,通過計算Tafel圖的線性部分來確定PtSe2微米帶的催化活性。如圖5e所示,PtSe2/Au(覆蓋率≈30%~90%)、商業Pt和空白Au箔的Tafel斜率分別為37~47、31和93 mV dec-1。值得注意的是,覆蓋率為≈90%的PtSe2/Au的Tafel斜率(37 mV dec-1)接近商用Pt(31 mV dec-1),可與大多數其他2D TMDs候選物相媲美或優于它們。PtSe2微米帶的出色HER性能與上述理論計算結果相吻合,證明了PtSe2微米帶的活性邊緣對HER的關鍵作用。此外,催化劑的性能與其電導率呈正相關,而PtSe2微米帶的厚度隨著覆蓋度增加而增加,其電導率隨著厚度增加而從半導體轉變為半金屬。因此,PtSe2微米帶電導率的提高也有助于催化性能的提高。此外,即使在1000次循環后,PtSe2/Au催化劑的極化曲線也顯示出可以忽略不計的差異(圖5f),并且PtSe2/Au催化劑在HER測量前后的XPS結果顯示出可以忽略不計的變化,表明優異的電催化耐久性。以上結果表明,CVD生長的具有相當活性邊緣位點的PtSe2微米帶是HER應用的理想催化劑。?? ?
? ? ? ? ??
總結與展望?? ?
本文開發了一種新的臺階誘導析出生長策略,用于穩定地合成大面積超薄PtSe2微米帶。研究發現,在Au臺階中PtSe2成核形成能的降低以及Pt前驅體的高效析出供應有助于PtSe2的穩定合成。這種生長方法可以合成厚度從單層到塊材,覆蓋范圍從5%-100%的PtSe2微米帶,也可以擴展到PtSe2微米帶的合成。超薄PtSe2微米帶具有金屬導電性和豐富的邊緣活性位點,是一種高效的電催化劑。此外,具有可調厚度的高質量2D PtSe2將為未來探索其基本物理性質和光電子應用提供理想的平臺。本研究為2D TMDs材料的批量制備開辟了新的途徑,為其在光電器件和能量轉換方面的實際應用提供了新的前景。
? ? ? ? ??
文獻信息
Robust Synthesis of Large-Area PtSe2?Microbelts by Step-Induced Separation Growth on Au(001) Substrate for The Hydrogen Evolution Reaction
(Adv. Funct. Mater., 2023, DOI:10.1002/adfm.202312165)
文獻鏈接:
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/adfm.202312165?
原創文章,作者:計算搬磚工程師,如若轉載,請注明來源華算科技,注明出處:http://www.zzhhcy.com/index.php/2024/01/03/d67bb2f4d0/